Ce travail traite de l''analyse de texture cristallographique de céramiques et de couches minces du composé YBa2Cu3O7 et de l''effet de cette texture sur les propriétés supraconductrices, principalement la densité de courant critique Jc. La diffraction des rayons X a surtout été utilisée, complétée pour certains échantillons par la diffraction de neutrons. Dans le cas de l''utilisation des rayons X, les corrections de défocalisation indispensables à l''analyse quantitative des orientations préférentielles dans des couches minces et des multicouches ont été développées. Les échantillons massifs les plus texturés ont été élaborés par des techniques dérivées du Melt Textured Growth. L''importance de la texture sur Jc dans ces échantillons est clairement mise en évidence. Pour les couches minces hétéro-épitaxiées, l''utilisation de différents substrats va en défaveur de MgO, notamment à cause d''interfaces perturbées. Jc est reliée quantitativement au degré de texture des films. La présence en volume de faibles orientations secondaires (dont un modèle de quantification est décrit) diminue de façon importante Jc.