Ce volume en langue française, unique, est une version totalement refondue d’une précédente édition de 2004 aujourd’hui presque épuisée. Il regroupe la plupart des conférences dispensées lors des journées pédagogiques 2013 sur l’EBSD, et organisées par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux cristallins (conducteurs ou non-conducteurs, etc.) désireux de s’investir dans cette puissante technique d’imagerie et d’analyse, avant d’en exploiter pleinement ses forts potentiels. Il a été écrit par les orateurs de ces journées et d’autres experts internationaux.
