Cet ouvrage est destiné aux étudiants de 3e année de Licence et de Master de Physique, Chimie et Sciences de la Terre, ainsi qu'aux élèves des écoles d'ingénieurs. Le manuel introduit les principes de base de la cristallographie géométrique, par l'étude des réseaux, des opérations de symétrie, du dénombrement et de la construction des groupes ponctuels et des groupes d'espace. L'ouvrage se consacre aussi à la radiocristallographie en décrivant la production des rayons X et leurs propriétés, avec l'étude de la diffraction. Des applications et des exercices corrigés illustrent les points importants du cours. Cette 3e édition, entièrement actualisée, est enrichie d'un nouveau chapitre sur les nouvelles techniques de détermination des structures cristallines comme la réflectométrie X et les détecteurs utilisés dans le domaine des nanotechnologies. Un atlas des formes cristallographiques est proposé sur le web, ainsi qu'un programme de visualisation et de simulation.
